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X荧光光谱仪 测试介绍
X荧光光谱仪测试是一种基于X射线荧光原理的分析技术，它通过测量样品在受到高能辐射激发后发射出的二次X射线的能量和数量，来确定样品中各种元素的种类和含量。这种技术可以用于定性和定量分析，具有分析速度快、测量范围宽、干扰小等特点。
X荧光光谱仪测试适用于广泛的领域，包括冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域，尤其在RoHS检测领域应用得最多也最广泛。它能够分析固体、粉末、熔珠、液体等样品，分析范围为Be到U，且具有非破坏性分析、高精密度高的优点。
X荧光光谱仪 检测范围
1、涂层成分和厚度分析
X射线荧光光谱仪可以准确检测多层，即多层合金的厚度和成分、上下元素的重复镀层、轻元素和有机物的镀层和渗透层。
2、环境检测解决方案
X射线荧光光谱仪可以检测多种重金属和有害元素，检测的检出限可以达到1ppm以下。
3、全要素分析
X射线荧光光谱仪可以分析各种合金、矿石、土壤、珠宝等的元素组成，可以检测各种常见的贵金属和稀土。适用于广泛的行业，无论是电镀、5G通讯、新能源、五金建材、半导体、地矿、珠宝、汽车，还是高精密电子、芯片、航空航天等行业。
X荧光光谱仪 测试标准
GB/T 41497-2022 钒铁 钒、硅、磷、锰、铝、铁含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法
GB/T 3286.11-2022 石灰石及白云石化学分析方法 第11部分：氧化钙、氧化镁、二氧化硅、氧化铝及氧化铁含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法)
GB/T 6609.30-2022 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第30部分：微量元素含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法
GB/T 40915-2021 X射线荧光光谱法测定钠钙硅玻璃中SiO2、Al2O3、Fe2O3、K2O、Na2O、CaO、MgO含量
GB/T 5687.13-2021 铬铁 铬、硅、锰、钛、钒和铁含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法)
GB/T 40312-2021 磷铁 磷、硅、锰和钛含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法)
GB/T 40311-2021 钒渣 多元素的测定 波长色散X射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法)
GB/T 40110-2021 表面化学分析 全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定硅片表面元素污染
GB/T 39560.301-2020 电子电气产品中某些物质的测定 第3-1部分：X射线荧光光谱法筛选铅、汞、镉、总铬和总溴
GB/T 8151.22-2020 锌精矿化学分析方法 第22部分：锌、铜、铅、铁、铝、钙和镁含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法
